Axio CSM 700
Genau – schnell – in Echtfarbe
Das konfokale Lichtmikroskop für die materialwissenschaftliche Forschung, Qualitätskontrolle und Routineaufgaben misst laut Hersteller Zeiss berührungslos und mit hoher Genauigkeit auch feine Rauheiten auf relativ „weichen“ Oberflächen. Das Mikroskop gibt Oberflächen dreidimensional, hoch aufgelöst und in Echtfarbe wieder. Dabei sei das Gerät trotz hoher Funktionalität einfach zu bedienen. Die durchdachte Ergonomie spiegelt sich besonders in der Konsole wider, die zur Einstellung der Aufnahmeparameter gestaltet wurde.
Die Optik ermöglicht präzise Messungen dreidimensionaler Mikrostrukturen, aber auch Rauheitsbestimmungen, zum Beispiel bei Materialuntersuchungen an Polymeren, LCD-Panels, Halbleitern, Farbfiltern, Glas und Metallen in hoher Qualität. Die exakte dreidimensionale Abbildung in Echtfarbe stellt dem Anwender zusätzliche wichtige Informationen zur Verfügung. Die topografische Vermessung geschieht mit bis zu 117 Aufnahmen pro Sekunde. Weitere Vorteile sind die zuverlässige Detektion der Höheninformationen von rund 20 Nanometer Stufenhöhe bis in den Millimeterbereich und tiefenscharfe Bilder, wie sie sonst nur mit Rasterelektronenmikroskopen erzeugt werden können.
Bei den Messungen wird die Probe nicht berührt. Das vermeidet ungewollte Veränderungen der Strukturen, Verschmutzungen und andere unerwünschte Einflüsse.
Die einfach zu bedienende Software bietet zahlreiche Analysemöglichkeiten, wie Rauheitsmessung, Schichtdickenbestimmung und Partikelanalyse.
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